Холодный полевой катод

Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Regulus SU8200

Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Regulus SU8200

Сканирующий электронный микроскоп HITACHI Regulus SU8200 позволяет проводить исследование крупных образцов при высоком разрешении (до 1 нм), чему способствует наличие мощной электронной пушки с холодным полевым катодом и конструкция semi-in-lens (объективная открытая линза). Широкий экран (24,1 дюйма) с оптимальным разрешением (1920 х 1200) и большой диапазон угла вращения столика для образцов облегчают работу исследователя, упрощая управление прибором. Улучшенное детектирование сигнала позволяет отображать верхний слой поверхности образца.

Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения SU9000

Сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения SU9000

Сканирующий электронный микроскоп HITACHI SU9000, имеющий наилучшее разрешение (1,2 нм на 1 кВ во вторичных и 0,34 нм на 30 кВ в прошедших электронах), позволяет исследовать поверхность образца вплоть до атомного и молекулярного уровней. С помощью прибора можно изучить все характеристики нанообъекта (морфологию поверхности, размеры и форму). Оптика микроскопа способна показать рекордные значения увеличения (х800-х3000000). STEM-детектор дает исследователю дополнительные возможности по оптимизации картинки.

Подробнее

Сканирующий электронный микроскоп HITACHI SU9000, имеющий наилучшее разрешение (1,2 нм на 1 кВ во вторичных и 0,34 нм на 30 кВ в прошедших электронах), позволяет исследовать поверхность образца вплоть до атомного и молекулярного уровней. С помощью прибора можно изучить все характеристики нанообъекта (морфологию поверхности, размеры и форму). Оптика микроскопа способна показать рекордные значения увеличения (х800-х3000000). STEM-детектор дает исследователю дополнительные возможности по оптимизации картинки.
(далее…)

Сканирующий электронный микроскоп HITACHI SU9000, имеющий наилучшее разрешение (1,2 нм на 1 кВ во вторичных и 0,34 нм на 30 кВ в прошедших электронах), позволяет исследовать поверхность образца вплоть до атомного и молекулярного уровней. С помощью прибора можно изучить все характеристики нанообъекта (морфологию поверхности, размеры и форму). Оптика микроскопа способна показать рекордные значения увеличения (х800-х3000000). STEM-детектор дает исследователю дополнительные возможности по оптимизации картинки.
(далее…)

Новости

Архив новостей

Подписка на новости