Электронная микроскопия

Тип:

Просвечивающий 200 кВ электронный супермикроскоп FE-TEM HF5000 Hitachi HT

Новейшая модель 200 кВ просвечивающего электронного микроскопа FE-TEM HF5000.

HF5000 – это супермикроскоп, соединяющий в себе одновременно функции TEM и STEM.
Наличие Сs корректора позволяет достигнуть разрешения менее 0,1 нм.
Юстировка микроскопа, выведение астигматизма, центрирование пучка, автофокус, автоконтраст являются автоматизированными.
Оригинальные держатели Hitachi с улучшенными рабочими характеристиками.

Подробнее

Электронный сканирующий микроскоп S-3700N

Большая рабочая камера электронного сканирующего микроскопа S-3700N, снабженного термоэмиссионным вольфрамовым катодом, позволяет исследовать крупные образцы (диаметром до 300 мм). Диаметр доступной для наблюдений области составляет 203 мм. 10 выходов камеры дают возможность подключения дополнительных устройств. Микроскоп способен одновременно работать с несколькими детекторами (EDX, WDX, EBSD). Прибор может выдавать высокое разрешение в режиме VP-SEM (3,0 нм при 30 кВ) и располагает широким спектром увеличения на экране (х5–х1000000).

Подробнее

Сканирующе-просвечивающий электронный микроскоп HD2700

Два типа сканирующе-просвечивающих электронных микроскопов HD2700 позволяют исследовать тонкие образцы и выводить картинку сразу с трех детекторов (BF, DF, SE). Прибор HD2700 type B отличается быстротой работы и разрешением 0,204 нм. Устройство HD2700 type A оснащается корректором сферической аберрации объективной линзы, помогающим достичь разрешения 0,136 нм и более высоких значений тока пучка. Оба вида микроскопа могут комплектоваться катодом Шоттки или холодным полевым катодом. Прибор с успехом используется в области нанотехнологий.

Подробнее

Просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией HF-3300

Конструкция просвечивающего электронного микроскопа HITACHI HF-3300 включает в себя источник электронов с холодной полевой эмиссией, который позволил добиться высокого разрешения (до 0,1 нм) без использования энергетического фильтра и усложнения конфигурации. Оптика микроскопа способна дать увеличение в широком диапазоне (x2000-x1500000 в режиме высокого увеличения). Удобная система управления и автоматизация множества процессов позволяет оператору пользоваться мощными аналитическими возможностями микроскопа в комфортных условиях.

Подробнее
Страница 1 из 3123

Новости

Архив новостей

Подписка на новости