Аналитический сканирующий микроскоп SU70

Для дополнительной информации и коммерческого предложения

Источником электронов этого микроскопа служит полевой катод Шоттки. В приборе реализован разумный компромисс, который позволяет, сохраняя высокое разрешение, использовать многочисленные аналитические методики сканирующей электронной микроскопии: EDX, WDX, EBSP, STEM (TE), CL. Применение методики торможения электронов (Deceleration) даёт возможность понизить энергию электронного зонда до 100эВ, сохраняя высокое разрешение. Особое внимание заслуживает способность микроскопа работать в двух режимах, которая реализована с помощью методики FieldFreeMode. Объектив микроскопа имеет две обмотки. Когда задействована одна обмотка, микроскоп работает как out-lens, включение другой обмотки переводит его в работу в режим semi-in-lens. В out-lens режиме микроскопу доступны магнитные образцы и возможность использовать аналитическую приставку электронной дифракции EBSD.

Для получения коммерческого предложения заполните форму


Пользовательское соглашение
Разрешение,
полученное во вторичных электронах 1,0 нм на 15 кВ2,5 нм на 1 кВ
В режиме торможения электронов 1,6 нм на 1 кВ
Электронная оптика 
Ускоряющее напряжение 0,5 кВ — 30 кВ
Увеличение х20-х800 000
Столик для камеры образцов  
Перемещение, мм Х, Y: 110, Z: 1,5 — 40
Наклон/Вращение -5° до 70° / 60°