Cистема ионного травления/полировки с изменяемым направлением ионных пучков Leica EM RES102

Для дополнительной информации и коммерческого предложения

Приготовление образцов для TEM, SEM и LM исследований.

LAN соединение позволяет осуществлять внешний мониторинг и управление всеми операциями.

Подготовка образцов диаметром до 25 мм.

Полностью компьютеризированное управление процессом травления.

Для получения коммерческого предложения заполните форму


Пользовательское соглашение