Leica EM TXP для механической прецизионной подготовки поверхности образцов зеркального качества для TEM, SEM и LM исследований

Для дополнительной информации и коммерческого предложения

Универсальная установка для механической прецизионной подготовки поверхности  образцов зеркального качества для TEM, SEM и LM исследований.

Установка оснащена интегрированный стереомикроскоп с масштабной сеткой и регулировкой угла наклона держателя образцов. Для контроля качества полученных поверхностей нет необходимости использовать дополнительный микроскоп.

Отлично подходит для предварительно подготовки образцов для ультрамикротома и ионного травления.

 

Для получения коммерческого предложения заполните форму


Пользовательское соглашение

Новости

Архив новостей

Подписка на новости