Система трехлучевого ионного травления материалов на большую глубину Leica EM TIC 3X

Для дополнительной информации и коммерческого предложения

Система использует принцип одновременного поперечного травления с трех направлений для подготовки поверхности для SEM и AFM исследований, а также проведения EDS, WDS, Auger и EBSD анализа.

Для работы на системе требуется минимальная предварительная механическая подготовка образца. К функциональным особенностям прибора можно отнести 3 Ar ионных пушки, столик, перемещающийся в трех направлениях и встроенный стереомикроскоп.

Для обработки чувствительных  к нагреву материалов (резина, водорастворимые полимеры) может быть установлен охлаждаемый столик, позволяющий охладить держатель образца и маску до -160° C.
Установка может быть оснащена вращающимся столиком, столиком под несколько образцов и специальным портом для VCT500.

Для получения коммерческого предложения заполните форму


Пользовательское соглашение

Новости

Архив новостей

Подписка на новости