Сканирующий электронный микроскоп

Аналитический сканирующий микроскоп SU5000

Аналитический сканирующий микроскоп SU5000

Катод Шоттки, установленный на растровый микроскоп SU5000, выдает стабильный ток пучка, позволяя проводить быстрый анализ при высоком разрешении (1,2 нм). К камере прибора могут подключаться всевозможные аналитические приставки (EDS, WDS). Режим VP-SEM (неглубокий вакуум) с доступным детектором вторичных электронов дает возможность исследовать непроводящие образцы. Работа с магнитными объектами осуществляется благодаря конструкции линзы Out-of-Lens. Высокого увеличения (800000) достаточно для тщательного изучения образца.

Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Regulus SU8200

Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Regulus SU8200

Сканирующий электронный микроскоп HITACHI Regulus SU8200 позволяет проводить исследование крупных образцов при высоком разрешении (до 1 нм), чему способствует наличие мощной электронной пушки с холодным полевым катодом и конструкция semi-in-lens (объективная открытая линза). Широкий экран (24,1 дюйма) с оптимальным разрешением (1920 х 1200) и большой диапазон угла вращения столика для образцов облегчают работу исследователя, упрощая управление прибором. Улучшенное детектирование сигнала позволяет отображать верхний слой поверхности образца.

Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения SU9000

Сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения SU9000

Сканирующий электронный микроскоп HITACHI SU9000, имеющий наилучшее разрешение (1,2 нм на 1 кВ во вторичных и 0,34 нм на 30 кВ в прошедших электронах), позволяет исследовать поверхность образца вплоть до атомного и молекулярного уровней. С помощью прибора можно изучить все характеристики нанообъекта (морфологию поверхности, размеры и форму). Оптика микроскопа способна показать рекордные значения увеличения (х800-х3000000). STEM-детектор дает исследователю дополнительные возможности по оптимизации картинки.

Подробнее
Сканирующий электронный микроскоп SU3500  с термоэмиссией

Сканирующий электронный микроскоп SU3500 с термоэмиссией

Сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссией SU3500 позволяет получить исчерпывающую информацию о топографии изучаемого материала с помощью построения 3D-макета поверхности. Прибор характеризуется высоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях. Возможна одновременная установка детекторов любых разновидностей (EDX, EBSD, CL). Приборного увеличения (х5–х300000) достаточно для исследования множества свойств образца. Изображение, получаемое на мониторе, можно увеличивать в широком диапазоне (х5–х1000000).

Подробнее
Страница 1 из 212

Основная задача сканирующих электронных микроскопов — получение изображений за счет воздействия маленьким (меньше 1 миллионной доли метра) пучком электронов на исследуемый образец, помещенный в промышленный вакуум. В зависимости от конструкции микроскопы выдают сведения о:

  • рельефе поверхности;
  • химическом составе пробы;
  • структуре приповерхностных слоев.

Режимы работы микроскопа обусловлены механизмом регистрирования сигнала и классифицируются на:

  • детектирование вторичных электронов (характерны максимальное разрешение, существенная глубина резкости (от 0,6 до 0,8 мм); выдает четкие микрофотографии с трехмерным эффектом — идеально для исследования структуры образцов);
  • детектирование электронов, отраженных от образца упругим рассеиванием (дает сведения о соотношении элементов в исследуемой пробе);
  • режим катодолюминесценции и пр.

Пространственное разрешение микроскопа определяется поперечным размером электронного пучка, зависящего от фокусирующей его электронно-оптической системы. Оно ограничено областью взаимодействия зонда и анализируемого образца.

Сканирующими электронными микроскопами данного типа пользуются:

  • при проведении физических, биологических и иных естественнонаучных исследований;
  • в производстве/ремонте электроники (выявление дефектов микросхем);
  • для определения качества поверхности изделий на промежуточных этапах фотолитографического процесса;
  • при решении других лабораторных и производственных задач.

Наш каталог презентует стационарные и настольные модели, цену приборов уточняйте по телефону.

Сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссией SU3500 позволяет получить исчерпывающую информацию о топографии изучаемого материала с помощью построения 3D-макета поверхности. Прибор характеризуется высоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях. Возможна одновременная установка детекторов любых разновидностей (EDX, EBSD, CL). Приборного увеличения (х5–х300000) достаточно для исследования множества свойств образца. Изображение, получаемое на мониторе, можно увеличивать в широком диапазоне (х5–х1000000).
(далее…)

Новости

Архив новостей

Подписка на новости