Сканирующий электронный микроскоп SU3500 с термоэмиссией

Для дополнительной информации и коммерческого предложения

Сканирующий электронный микроскоп Hitachi SU3500 отличается улучшенным разрешением при низких ускоряющих напряжениях. Камера образца позволяет одновременную установку любых дополнительных детекторов (EDX, WDX, EBSD, CL). Прибор позволяет построение 3D-картин поверхности в режиме реального времени, что позволяет получать обширную информацию о топографии образца.

Дополнительное оборудование:

Для получения коммерческого предложения заполните форму


Пользовательское соглашение
Разрешение,
полученное во вторичных электронах 3,0 нм при 30 кВ (высокий  вакуум),7,0 нм при 3 кВ (высокий  вакуум)
в обратно-рассеянных электронах 4,0 нм при 30 кВ (низкий  вакуум)
Электронная оптика 
Ускоряющее напряжение 0,3 кВ — 30кВ
Увеличение приборное х5 — х300 000
На экране монитора х5 — х1 000 000
Столик для камеры образцов Х: 0-100 мм, Y:  0 — 50 мм,
Z: 5 — 65 мм
Наклон от -20° до +90°
Вращение 360°

Новости

Архив новостей

Подписка на новости